今天小編來給大家分享一些關(guān)于激光粒度儀全稱SEM和TEM有什么區(qū)別 方面的知識(shí)吧，希望大家會(huì)喜歡哦

1、透射電鏡（TEM）能夠?qū)悠贩糯笾?000萬倍以上，而掃描電鏡（SEM）的放大倍數(shù)通常限制在1-2百萬倍之間。二者的電子種類不同。透射電鏡收集的是穿透樣品的電子，而掃描電鏡則是收集從樣品表面反射回來的電子，并將其成像。觀察到的圖像也存在差異。

2、性質(zhì)不同SEM：根據(jù)用戶使用搜索引擎的方式利用用戶檢索信息的機(jī)會(huì)盡可能將營銷信息傳遞給目標(biāo)用戶。TEM：把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。

3、tem和sem區(qū)別如下：透射電鏡（TEM）可以將樣品放大5000萬倍以上，而對(duì)于掃描電鏡（SEM）來說，限制在1-2百萬倍之間。電子種類不同。透射電鏡收集的是透過樣品的電子，掃描電鏡是把從樣品表面反射出來的電子收集起來并使它們成像。觀察得到的圖像不同。

4、SEM（掃描電子顯微鏡）和TEM（透射電子顯微鏡）是兩種不同的電子顯微鏡技術(shù)，它們?cè)诠δ芎蛻?yīng)用上存在顯著差異。SEM利用樣品激發(fā)出的二次電子和背散射電子來形成圖像。這種技術(shù)適合于觀察樣品的表面形貌和表面成分。TEM則通過透射樣品中的電子來形成圖像，能夠表征樣品的質(zhì)厚襯度和內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)。

5、sem和tem的區(qū)別如下：結(jié)構(gòu)差異二者之間結(jié)構(gòu)差異主要體現(xiàn)在樣品在電子束光路中的位置不同。透射電鏡（TEM）的樣品在電子束中間，電子源在樣品上方發(fā)射電子，經(jīng)過聚光鏡，然后穿透樣品后，有后續(xù)的電磁透鏡繼續(xù)放大電子光束，最后投影在熒光屏幕上。

“油液顆粒度分析儀”內(nèi)置哪些國家標(biāo)準(zhǔn)?

以“GYKLD-B油液顆粒度分析儀”為例，它最常用的檢測標(biāo)準(zhǔn)包括NAS163ISO4406及國軍標(biāo)GJB420B。NAS1638標(biāo)準(zhǔn)將油液中5-115-225-50、50-100和100um尺寸區(qū)間內(nèi)的最大允許顆粒數(shù)劃分為14個(gè)污染等級(jí)，測量結(jié)果中的顆粒往往分布在不同的等級(jí)，通常選取其中最高的等級(jí)作為油液污染度等級(jí)。

還有一個(gè)是國防和軍隊(duì)常用的標(biāo)準(zhǔn)，簡稱“國軍標(biāo)GJB420B標(biāo)準(zhǔn)”定級(jí)標(biāo)準(zhǔn)：按B-E尺寸范圍100ml油液中顆粒數(shù)中的最高等級(jí)定級(jí)。

一般需要6到18個(gè)月校準(zhǔn)一次，利用的ISO11171或者ISO4402。本儀器采用英國普洛帝核心技術(shù)—“光阻測量顆?！保⒉捎糜鸵盒袠I(yè)經(jīng)典方法NAS1638和ISO4406，并可根據(jù)用戶的要求，內(nèi)置用戶所需多種標(biāo)準(zhǔn)。

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別主要是名稱不同、工作原理不同、作用不同、名稱不同SEM，英文全稱：Scanningelectronmicroscope，中文稱：掃描電子顯微鏡。

每種技術(shù)都有其獨(dú)特的優(yōu)勢和適用范圍，SEM和TEM常用于觀察材料的微觀和超微觀結(jié)構(gòu)，XRD用于物相分析，AES分析元素濃度分布，STM和AFM則分別用于觀察原子級(jí)分辨率的表面形貌。

xrd是x射線衍射，可以分析物相，SEM是掃描電鏡，主要是觀察顯微組織，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微結(jié)構(gòu)。AES是指能譜，主要分析濃度分布。STM掃描隧道顯微鏡，也是觀察超微結(jié)構(gòu)的。AFM是原子力顯微鏡，主要是觀察表面形貌用的---回答的不是很全。

TEM，即透射電鏡，是一種利用電子束穿透樣品來觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的顯微鏡。EDS，能量彌散X射線譜，是一種通過分析樣品中元素的X射線來確定其化學(xué)成分的技術(shù)。SEM，掃描電子顯微鏡，用于觀察樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)，它通過電子束在樣品表面掃描來產(chǎn)生圖像。

本文到這結(jié)束，希望上面文章對(duì)大家有所幫助