1、檢測(cè)儀器為：MIT耐折度儀 儀器型號(hào)為：PN-NZ135 （測(cè)量范圍：≤99999次）在瓦楞原紙和箱板紙檢測(cè)這一塊，一般常規(guī)配置的儀器是：圓形定量取樣器、環(huán)壓強(qiáng)度測(cè)定儀、耐折度儀、水分測(cè)定儀、拉力儀和紙張耐破儀。
FCT功能測(cè)試治具是對(duì)產(chǎn)品的功能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備。
首先，從測(cè)試目的來(lái)看，F(xiàn)CT功能測(cè)試治具主要用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行功能測(cè)試，如電壓、電流、功率、頻率等參數(shù)的檢測(cè)，以驗(yàn)證產(chǎn)品的功能性能是否符合要求。這種測(cè)試通常在產(chǎn)品組裝后進(jìn)行，屬于動(dòng)態(tài)測(cè)試，需要在通電狀態(tài)下進(jìn)行。
FCT（功能測(cè)試）它指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：Unit Under Test）提供模擬的運(yùn)行環(huán)境（激勵(lì)和負(fù)載），使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài)，從而獲取到各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證UUT的功能好壞的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說(shuō)，就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì)，測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。一般專指PCBA的功能測(cè)試。
ICT測(cè)試治具即 Integrated Circuit Tester集成電路測(cè)試儀器治具的縮寫，就是在線檢測(cè)、測(cè)試治具。是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。
1、ICT是在線測(cè)試儀，ICT治具是配套使用的，根據(jù)你的板子定做的有很多針點(diǎn)的夾具。
2、ICT是在線測(cè)試儀的縮寫，而FCT是功能測(cè)試的縮寫。ICT主要用于測(cè)試電路板上的網(wǎng)絡(luò)、元器件以及線路的通斷情況。它是一種利用電腦技術(shù)，在大批量生產(chǎn)的電子產(chǎn)品生產(chǎn)線上，對(duì)電路板上元器件及其參數(shù)、電路裝配是否正確進(jìn)行測(cè)試的儀器。
3、ICT在線測(cè)試機(jī)，專門用于電路板上的模擬器件檢測(cè)，如電阻和電容等。對(duì)于一些高端設(shè)備，例如HP3070，不僅可以測(cè)試復(fù)雜的模擬電路，還能通過(guò)JTAG技術(shù)來(lái)測(cè)試數(shù)字芯片。而FCT功能測(cè)試站則側(cè)重于測(cè)試電路板的功能性，比如高頻AD轉(zhuǎn)換器、緩沖器，還有客戶端的特定功能等。ATE，即自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，可以統(tǒng)稱為ICT和FCT。
1、功能測(cè)試的分類根據(jù)控制模式的不同，主要分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試和全自動(dòng)控制功能測(cè)試。早期測(cè)試主要依賴手動(dòng)和半自動(dòng)，即便在今天，對(duì)于簡(jiǎn)單板件，出于設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化和降低成本的考量，這兩種方式仍被采用。然而，隨著科技的進(jìn)步，全自動(dòng)測(cè)試方案已占據(jù)主導(dǎo)，以節(jié)省生產(chǎn)成本。
2、FCT功能測(cè)試治具是對(duì)產(chǎn)品的功能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備。
3、功能測(cè)試的分類：依操作模式的不同，功能測(cè)試系統(tǒng)可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。早期的功能測(cè)試基本以手動(dòng)和半自動(dòng)為主，即使到2015年，對(duì)于簡(jiǎn)單的被測(cè)目標(biāo)（UUT），有時(shí)依然采用手動(dòng)或半自動(dòng)的當(dāng)時(shí)，這主要是為了簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和降低成本。
FCT測(cè)試，全稱為Functional Circuit Test，指的是功能測(cè)試，其核心在于模擬目標(biāo)測(cè)試物在運(yùn)行環(huán)境中的工作狀態(tài)，測(cè)試其在不同設(shè)計(jì)狀態(tài)下的功能表現(xiàn)，從而獲得關(guān)鍵參數(shù)以驗(yàn)證其功能是否正常。
探索FCT測(cè)試：定義、方法與關(guān)鍵步驟FCT測(cè)試，全稱為Functional Circuit Test，功能電路測(cè)試，是一項(xiàng)至關(guān)重要的質(zhì)量控制手段。它的核心目標(biāo)是模擬實(shí)際運(yùn)行環(huán)境，讓待測(cè)產(chǎn)品在各種設(shè)計(jì)狀態(tài)下運(yùn)行，從而準(zhǔn)確評(píng)估其功能性能。通過(guò)這種測(cè)試，我們可以得到產(chǎn)品在不同狀態(tài)下的關(guān)鍵參數(shù)，確保其功能的穩(wěn)定性和可靠性。
FCT功能測(cè)試治具是對(duì)產(chǎn)品的功能進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備。
FCT（功能測(cè)試）它指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：UnitUnderTest）提供模擬的運(yùn)行環(huán)境（激勵(lì)和負(fù)載），使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài)，從而獲取到各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證UUT的功能好壞的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說(shuō)，就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì)，測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。一般專指PCBA的功能測(cè)試。
比較而言，F(xiàn)CT設(shè)備在功能上超越ICT，但價(jià)格也相對(duì)較高。選擇哪個(gè)設(shè)備，應(yīng)基于產(chǎn)品測(cè)試需求來(lái)決定。目前，電子制造業(yè)中，更傾向于選擇功能更為全面的FCT，以滿足多樣化的產(chǎn)品測(cè)試需求。
ICT與FCT的區(qū)別： 測(cè)試對(duì)象不同：ICT主要關(guān)注集成電路的測(cè)試，而FCT則關(guān)注電子產(chǎn)品整體的功能和性能測(cè)試。 測(cè)試重點(diǎn)不同：ICT主要測(cè)試IC的性能參數(shù)是否達(dá)標(biāo)，而FCT更注重產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境下的表現(xiàn)。
FCT測(cè)試更加注重產(chǎn)品的功能性。它通過(guò)模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境中的工作狀態(tài)，檢驗(yàn)其功能是否正常，以確保產(chǎn)品的可靠性和穩(wěn)定性。通過(guò)全面檢測(cè)產(chǎn)品的各項(xiàng)功能，F(xiàn)CT測(cè)試不僅可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)潛在問(wèn)題，還可以提前預(yù)防產(chǎn)品在使用過(guò)程中可能出現(xiàn)的故障，為用戶提供更加可靠的產(chǎn)品體驗(yàn)。
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