這種誤解主要來源于兩個(gè)方面：第一，做材料研究的人們往往會(huì)期望自己的粉體材料粒度分布盡可能均勻和理想，因此他們希望能夠看到正態(tài)分布的測(cè)試結(jié)果。第二，激光粒度儀在出現(xiàn)故障或者儀器狀態(tài)不正常的情況下，有時(shí)會(huì)表現(xiàn)出測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)亂峰（多個(gè)微粉分布峰值），導(dǎo)致粒度分布曲線看起來不漂亮。
測(cè)粒度分布的方法包括篩分法、沉降法、激光法（如激光衍射式粒度儀、光散射法）和電感法（如庫(kù)爾特法）。其中，激光衍射式粒度儀適合粒度大于5μm的樣品，而動(dòng)態(tài)光散射粒度儀適用于粒徑小于5μm的納米樣品。
砂巖和粉砂巖的粒度分析常采用篩析法、沉速法和薄片法，常用的沉速法有阿茲尼法、沙巴寧法和羅賓遜法等。篩析法和沉速法適用于未固結(jié)的疏松巖石，如粗碎屑巖，一般只用篩析法；而中-細(xì)粒碎屑巖由于常常含有較多的粉砂和黏土，常將沉速法與篩析法相結(jié)合使用。薄片法主要用于固結(jié)堅(jiān)硬的巖石。
砂巖和粉砂巖的粒度分析常采用篩析法、沉速法和薄片法，常用的沉速法有阿茲尼法、沙巴寧法和羅賓遜法等。篩析法和沉速法適用于未固結(jié)的疏松巖石，如粗碎屑巖一般只用篩析法；而中—細(xì)粒碎屑巖由于常常含有較多的粉砂和黏土，常將沉速法與篩析法結(jié)合使用。薄片法主要用于固結(jié)堅(jiān)硬的巖石。
粒度測(cè)試方法眾多，但最常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法。其中，沉降法根據(jù)顆粒沉降速度不同來測(cè)試粒度分布。沉降法的原理基于斯托克斯定律，該定律指出沉降速度與顆粒直徑的平方成正比。通過沉降儀，尤其在離心狀態(tài)下，測(cè)試時(shí)間將大大縮短。
大概有以下幾種方法： 篩分法，這個(gè)通過查看篩余量，過篩率等來判斷粉體粒度的分布，優(yōu)點(diǎn)是成本低，缺點(diǎn)是只能給出點(diǎn)的粒徑，不能給出全部粉體的粒度分布。 沉降法，一般是利用斯托克原理，通過懸浮液體客戶的在重力作用下的沉降速度來判定顆粒的大小。
馬爾文激光粒度儀的報(bào)告分析涉及兩個(gè)關(guān)鍵參數(shù)：徑距和一致性。徑距，簡(jiǎn)單來說，是通過計(jì)算顆粒分布寬度的差異來衡量的，具體公式為（D（0.9）-D（0.1）/D（0.5），數(shù)值越大，表示顆粒大小的分布越寬廣。這個(gè)指標(biāo)有助于了解樣品中不同顆粒尺寸的范圍。
其次，一致性指標(biāo)與數(shù)列的標(biāo)準(zhǔn)差相似，衡量的是顆粒分布偏離中心粒徑的程度。如果一致性數(shù)值較大，說明顆粒大小的分布偏離平均值的程度較高，反之則反之。在具體計(jì)算過程中，粒徑段的體積比Xi和分段粒徑值di是關(guān)鍵數(shù)據(jù)，通過這些參數(shù)，可以根據(jù)特定的分布規(guī)律，通過編程實(shí)現(xiàn)快速計(jì)算新的粒度分布。
徑距表明顆粒的分布寬度：（D（0.9）-D（0.1）/D（0.5）。徑距越大，表明分布寬度越寬。一致性表示的是粒徑分布偏離中間的程度。意義跟數(shù)列的標(biāo)準(zhǔn)差一個(gè)意思。Xi是粒徑段的體積比。di是分段的粒徑值。d（x，0.5）是d（0.5）.這個(gè)跟具體的分布有關(guān)的。
遮光度表示分散介質(zhì)中所含樣品數(shù)量多少的一種度量。殘差是根據(jù)米氏理論，針對(duì)選定光學(xué)模型，光學(xué)參數(shù)和最終結(jié)果計(jì)算出的光強(qiáng)數(shù)據(jù)與實(shí)際檢測(cè)光強(qiáng)的差異。并不是越小越好，0.5與0.8殘差值并不表示0.5的殘差結(jié)果就比0.8的準(zhǔn)確，一般認(rèn)為小于3%都是可以接受的。
1、粒徑測(cè)試方法多樣，包括篩分法、沉降法、激光法、噴霧粒徑測(cè)試、動(dòng)態(tài)光散射法、納米顆粒跟蹤分析、電鏡圖像法。每種方法有其適用范圍和特點(diǎn)。篩分法是粒徑分布使用廣泛且簡(jiǎn)單快速的方法，通過篩網(wǎng)分級(jí)。干篩適用于較大顆粒，濕篩或空氣噴射篩分適合細(xì)粉。
2、干篩法是將土壤充分壓碎，用不同孔徑的篩子篩分。吸管法即土粒經(jīng)充分分散后在沉降筒內(nèi)于靜水中按斯托克斯定律進(jìn)行沉降。一定時(shí)間后，在一定深度上只有小于某一粒徑的土粒均勻地分布著；這時(shí)在這個(gè)深度層吸取一定量的懸液烘干稱其質(zhì)量，可以計(jì)算出小于該粒徑土粒的含量。
3、電子顯微鏡法是對(duì)納米材料尺寸、形貌、表面結(jié)構(gòu)和微區(qū)化學(xué)成分研究最常用的方法， 一般包括掃描電子顯微鏡法（SEM） 和透射電子顯微鏡法（TEM）。對(duì)于很小的顆粒粒徑， 特別是僅由幾個(gè)原子組成的團(tuán)簇，采用掃描隧道電鏡進(jìn)行測(cè)量。計(jì)算電鏡所測(cè)量的粒度主要采用交叉法、最大交叉長(zhǎng)度平均值法、粒徑分布圖法等。
準(zhǔn)備樣品：將待測(cè)的超細(xì)粒度物料取樣，并確保樣品均勻，避免聚集和團(tuán)塊的存在。調(diào)試儀器：確保馬爾文激光粒度儀的參數(shù)設(shè)置與待測(cè)樣品相適應(yīng)。這包括選擇適當(dāng)?shù)募す獠ㄩL(zhǎng)、散射角度和光路尺寸等。校準(zhǔn)儀器：對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保粒度測(cè)量的準(zhǔn)確性和可重復(fù)性。
粒度和粒徑分布：玉米淀粉的粒度影響其功能性，如溶解性、糊化特性和口感。通常，細(xì)粒度的淀粉更容易溶解，而粗粒度的淀粉則提供更好的稠度和穩(wěn)定性。通過顯微鏡觀察和激光粒度分析儀可以評(píng)估淀粉的粒度分布。水分含量：淀粉的水分含量影響其保存穩(wěn)定性和流動(dòng)性。高水分含量可能導(dǎo)致淀粉結(jié)塊，降低其儲(chǔ)存壽命。
可在剛玉或瑪瑙碎樣機(jī)中加工至粒度為0.074mm的分析試樣，加工后的試樣質(zhì)量應(yīng)不少于加工樣品質(zhì)量的90%，不過篩，憑手感檢查粒度是否達(dá)到要求。 煤樣加工按GB/T474執(zhí)行。 6 樣品加工中的質(zhì)量控制 樣品加工應(yīng)盡可能防止引入誤差，否則誤差將被帶至后續(xù)的分析工作中，嚴(yán)重時(shí)將導(dǎo)致分析結(jié)果全部無效。
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