杭州通鑒科技有限公司公司簡介

1、杭州通鑒科技有限公司，自2009年成立以來，專注于為各類企業(yè)提供全面的電磁兼容、防雷、安全規(guī)范以及可靠性服務(wù)。公司以一站式解決方案為核心，致力于滿足客戶從設(shè)計、整改、測試到認證的全方位需求。

手機芯片可靠性測試項目有哪些?怎么做?

1、溫度循環(huán)測試：評估芯片在極端溫度變化下的性能穩(wěn)定性。 濕熱老化測試：驗證芯片在高濕度環(huán)境下的耐久性。 鹽霧腐蝕測試：檢查芯片對腐蝕性環(huán)境的抵抗能力。 紫外光加速老化測試：衡量芯片在紫外線照射下的老化速度。 震動測試：確保芯片在日常使用中的物理沖擊下仍能正常運行。

2、方法：將芯片在預(yù)設(shè)的高溫和低溫之間快速轉(zhuǎn)換，觀察器件的功能和性能變化。 高溫高濕測試 目的：評估芯片在高溫和高濕環(huán)境下的性能變化，以檢測潛在的腐蝕和故障。方法：將芯片置于高溫、高濕的環(huán)境中，持續(xù)一段時間，觀察其性能。 熱沖擊測試 目的：測試芯片在突然的溫度變化下的可靠性。

3、高加速應(yīng)力測試測試目的：通過高溫高濕條件快速評估器件可靠性。測試流程：未詳細說明，通常包括高溫高濕環(huán)境的設(shè)定和性能測試。執(zhí)行標準：JEDEC JESD22-A118： Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test （HAST）熱沖擊測試測試目的：評估器件在劇烈溫度變化下的耐受能力。

4、**使用壽命測試**（Life Test Items）：包括EFR（Early Fail Rate Test）、HTOL（High Temperature Operating Life）和LTOL（Low Temperature Operating Life）。EFR通過加速測試條件評估工藝穩(wěn)定性，去除由于生產(chǎn)缺陷導致的早期失效產(chǎn)品。

什么是HAST試驗箱?

HAST試驗箱，即高加速應(yīng)力試驗箱，是一種用于檢查器具的通用設(shè)備，適用于質(zhì)量工程領(lǐng)域。主要目的是通過模擬惡劣環(huán)境條件來測試系統(tǒng)和設(shè)備的性能，加速電子設(shè)備的老化過程，確保其耐用性和可靠性。這類設(shè)備適用于多種行業(yè)，包括汽車、航空航天、電子、電信、醫(yī)療設(shè)備、消費電子和材料測試等。

非飽和蒸汽試驗（HAST）是加速濕氣測試的一種方法，其目的是縮短溫濕度和溫濕度偏壓試驗所需時間，以加速材料的吸濕速率，并在較短時間內(nèi)驗證材料的可靠性。依據(jù)美國Hughes航空公司的統(tǒng)計報告，溫濕度對電子產(chǎn)品的故障影響高達60%，因此HAST試驗箱在電子產(chǎn)品開發(fā)中尤為重要。

PCT是pressure cooker test的英文簡稱。指高壓加速老化壽命試驗。2，HAST，指HAST老化試驗箱。適用性不同 PCT適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗。