.徠斯達(dá)測(cè)厚儀(十大測(cè)厚儀品牌,徠斯達(dá))。
1、光學(xué)顯微鏡是最常見(jiàn)的測(cè)量薄膜厚度的儀器之一。通過(guò)觀察薄膜在顯微鏡下的干涉圖案,可以間接測(cè)量薄膜的厚度。這種方法適用于透明薄膜的測(cè)量,如光學(xué)鍍膜。掃描電子顯微鏡(SEM)掃描電子顯微鏡是一種高分辨率的顯微鏡,可以通過(guò)掃描電子束來(lái)觀察樣品表面的形貌和結(jié)構(gòu)。
2、紙張厚度測(cè)量?jī)x:專門(mén)用于測(cè)量4毫米以下紙張和紙板的厚度,包括各種薄膜等材料。 薄膜厚度測(cè)量?jī)x:精確測(cè)量薄膜和薄片材料的厚度,具有廣泛的測(cè)量范圍、高精度以及多項(xiàng)實(shí)用功能,如數(shù)據(jù)輸出、位置置零、單位轉(zhuǎn)換和自動(dòng)關(guān)機(jī)等。 涂層厚度測(cè)量?jī)x:設(shè)計(jì)用于測(cè)定涂層覆蓋在鐵或非鐵金屬基材上的厚度。
3、光學(xué)3D表面輪廓儀、激光共聚焦顯微鏡和臺(tái)階儀是測(cè)量厚度的常用儀器。光學(xué)3D表面輪廓儀利用白光干涉技術(shù)原理,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)獲取表面三維形貌,適用于精密零部件表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
4、測(cè)量厚度可以用時(shí)下熱門(mén)的納米級(jí)測(cè)量?jī)x器-光學(xué)3D表面輪廓儀、激光共聚焦顯微鏡和臺(tái)階儀。光學(xué)3D表面輪廓儀(光學(xué),非接觸式)光學(xué)3D表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)原理,通過(guò)測(cè)量干涉條紋的變化來(lái)測(cè)量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測(cè)量。
測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理分為五種類型:磁性測(cè)厚法測(cè)量導(dǎo)磁材料非導(dǎo)磁層,渦流測(cè)厚法測(cè)量導(dǎo)電金屬上非導(dǎo)電層,超聲波測(cè)厚法測(cè)量多層涂鍍層或無(wú)法測(cè)量層,電解測(cè)厚法需破壞涂層,放射測(cè)厚法儀器昂貴適用于特殊場(chǎng)合。國(guó)內(nèi)最常用的是磁性和渦流測(cè)厚法。
超聲波測(cè)厚儀:常用于涂鍍層厚度的測(cè)量,但目前市場(chǎng)上可能沒(méi)有專門(mén)針對(duì)這一應(yīng)用的超聲波測(cè)厚儀。 管材壁厚測(cè)量?jī)x:這類設(shè)備用于測(cè)量鋼管的壁厚,但有一定的限制條件,如內(nèi)徑需大于70mm,不適合在線測(cè)量,且僅能在管端50至500mm的范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量。
白光干涉儀、電解式測(cè)厚儀、百格刀和紅外線測(cè)厚儀等都是測(cè)厚儀的種類。具體使用哪種設(shè)備取決于所測(cè)量的材料類型。超聲測(cè)厚儀和涂鍍層測(cè)厚儀因價(jià)格適中、用途廣泛而使用較多。若需了解更多設(shè)備信息,請(qǐng)與專業(yè)機(jī)構(gòu)聯(lián)系。
膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。
渦流測(cè)厚儀的工作原理基于高頻交流信號(hào)的電磁效應(yīng)。當(dāng)測(cè)頭線圈中的信號(hào)被激發(fā),靠近導(dǎo)體時(shí),會(huì)在導(dǎo)體內(nèi)部形成渦流。渦流的大小與測(cè)頭與導(dǎo)電基體的距離密切相關(guān),距離越近,渦流越強(qiáng),反射的阻抗也隨之增大。這個(gè)反射阻抗的變化,實(shí)際上反映了測(cè)頭與基體之間距離,即非導(dǎo)電覆層的厚度。
采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。
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