為此，對集流體表面進(jìn)行處理，如底涂導(dǎo)電炭，可以提升性能。本文聚焦于底涂集流體的均勻性評(píng)估，特別是通過極片電阻法來研究涂炭鋁箔的均勻性和對電阻的影響。實(shí)驗(yàn)采用BER1300極片電阻儀進(jìn)行，設(shè)備包括直徑14mm、可施加5-60MPa壓強(qiáng)的電阻儀。研究對象包括空鋁箔、涂炭鋁箔、空箔極片和涂炭極片。
極片電阻測試方法探究單探針&兩探針&四探針的答案如下：單探針法：測試方式：采用一端固定電阻儀，另一端移動(dòng)端子進(jìn)行測試。優(yōu)缺點(diǎn)：簡單裝置無法固定壓力，導(dǎo)致測試結(jié)果波動(dòng)大；可控壓的單探針法則能有效減少接觸電阻的差異，提高測試穩(wěn)定性，但相比其他方法，其測試結(jié)果的穩(wěn)定性仍然較差。
對于箔材和極片電阻率，測試方法的差異性主要體現(xiàn)在探針與極片表面接觸電阻的不同，以及電子傳輸路徑的差異。單探針法測試時(shí)，電子傳輸路徑包含涂層與集流體界面、集流體以及橫向集流體，而四探針法則通過分離的電流和電壓電極，消除了接觸電阻的影響，因此測得的電阻率絕對值最小。
兩探針法測試正極極片cathode-1，極片電阻率遠(yuǎn)大于鋁箔電阻率，對于大電阻極片cathode-2同樣適用。負(fù)極極片測試時(shí)，四探針法對于小電阻極片無法區(qū)分涂層影響，僅大電阻極片能區(qū)分，而兩探針法可明顯測出涂層與箔材的電阻差異。
正極材料極片電阻率是正極材料的電阻率，首先要知道電池片的厚度、直徑、探針間距、測點(diǎn)距邊緣的距離、環(huán)境溫度和電池片的PN結(jié)情況；在測量中要知道測量電流，和3探針的電壓。就可以知道電阻率是多少。
對于帶箔材極片，正極極片cathode-1使用四探針法測試，極片電阻率約為1^10-6Ω*cm，遠(yuǎn)小于純鋁箔電阻率（884^10-5Ω*cm），而對阻值較大的極片cathode-2而言，四探針法測試的電阻率遠(yuǎn)大于純鋁箔電阻率。
測試結(jié)果表明，雖然涂碳鋁箔的電阻和電阻率略高于空鋁箔，但在涂敷上活性物質(zhì)后，使用涂碳鋁箔的極片電阻和電阻率比使用空鋁箔的磷酸鐵鋰極片低，且測試數(shù)據(jù)穩(wěn)定性更好。
能量密度更高：相比傳統(tǒng)石墨負(fù)極材料，高硅負(fù)極電池的能量密度大幅提升21%。電池容量更大：這將直接提升手機(jī)的續(xù)航能力。技術(shù)難點(diǎn)與華為的解決方案：體積膨脹系數(shù)大：華為采用碳包覆結(jié)構(gòu)和創(chuàng)新柔性聚合物粘結(jié)劑來抑制膨脹和脫落。首次充放效率低：華為采用鋰箔補(bǔ)鋰技術(shù)，將首次充放電效率提升了26%。
電阻大小和材料，溫度，長度，橫截面積都有關(guān)系 導(dǎo)體的長度、材料相同時(shí)，橫截面積越大，電阻越小；導(dǎo)體的橫截面積、材料相同時(shí)，長度越長，電阻越大；導(dǎo)體的橫截面積、長度相同時(shí)，導(dǎo)體的材料不同，電阻大小不同。
本文暫時(shí)沒有評(píng)論，來添加一個(gè)吧(●'?'●)