如何著手分析sem掃描電鏡得到的圖片

1、分析 SEM 掃描電鏡圖片可從以下幾方面入手。首先觀察形貌，留意樣品的整體形狀、表面起伏、顆粒分布等。比如材料表面是否平整，有無(wú)裂紋、孔洞，顆粒是均勻分散還是團(tuán)聚。接著關(guān)注尺寸，借助圖片上的標(biāo)尺，測(cè)量特征結(jié)構(gòu)或顆粒的大小，了解其微觀尺度。

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別

1、SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的區(qū)別主要是名稱(chēng)不同、工作原理不同、作用不同、名稱(chēng)不同 SEM，英文全稱(chēng)：Scanning electron microscope，中文稱(chēng)：掃描電子顯微鏡。

2、每種技術(shù)都有其獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)和適用范圍，SEM和TEM常用于觀察材料的微觀和超微觀結(jié)構(gòu)，XRD用于物相分析，AES分析元素濃度分布，STM和AFM則分別用于觀察原子級(jí)分辨率的表面形貌。

3、xrd是x射線衍射，可以分析物相，SEM是掃描電鏡，主要是觀察顯微組織，TEM是透射電鏡，主要觀察超限微結(jié)構(gòu)。AES是指能譜，主要分析濃度分布。STM掃描隧道顯微鏡，也是觀察超微結(jié)構(gòu)的。AFM是原子力顯微鏡，主要是觀察表面形貌用的---回答的不是很全。

4、TEM， 即透射電鏡，是一種利用電子束穿透樣品來(lái)觀察其內(nèi)部結(jié)構(gòu)的顯微鏡。EDS，能量彌散X射線譜，是一種通過(guò)分析樣品中元素的X射線來(lái)確定其化學(xué)成分的技術(shù)。SEM，掃描電子顯微鏡，用于觀察樣品表面的微觀結(jié)構(gòu)，它通過(guò)電子束在樣品表面掃描來(lái)產(chǎn)生圖像。

trimos是什么牌子

兩個(gè)都是瑞士的品牌。 Trimos操作簡(jiǎn)單，結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的簡(jiǎn)便。 TESA結(jié)構(gòu)相對(duì)復(fù)雜點(diǎn)，操作相對(duì)沒(méi)有那么簡(jiǎn)單。 但是毋庸置疑都是相當(dāng)OK的設(shè)備。

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