手持光譜儀可以用于金礦含量的初步測定,但一般難以給出非常精確的結果,以下從其原理、優(yōu)勢和局限性方面具體分析:原理 手持光譜儀通?;?X 射線熒光(XRF)等原理工作。
1、XRF測試是一種用于測量和量化材料表面處理中化學元素含量的先進技術。XRF測試的全稱為X射線熒光光譜儀。
2、項目簡介方面,XRF測試的全稱為X射線熒光光譜儀,使用的儀器型號為PANalytical Axios、RIGAKU ZSX Priums。測試支持定性分析和定量分析兩種方式。定性分析基于莫塞萊定律,通過不同元素的特征X熒光找到對應元素;定量分析則通過建立校正曲線,確定未知樣的濃度。
3、XRF通過物理原理,快速測定多元素,適用于定性和定量分析,尤其適合表面化學,但對樣品表面有要求。ICP,包括ICP-OES(光譜儀)和ICP-MS(質譜儀),具有極低的檢測限,能測定大部分元素,尤其在痕量元素分析上表現(xiàn)出色,但對樣品狀態(tài)(如溶劑和清晰度)有一定要求。
4、X射線熒光光譜儀(XRF)是用于分析和測試材料中化學元素的常用工具。 該技術能夠檢測廣泛的元素,從鈣到鉛,再到鉑,覆蓋了金屬和非金屬元素。 在金屬元素中,XRF能夠識別鐵、銅、鉛、鋅、錫、鋁和鎳等多種元素,這些在多種材料中都是關鍵成分。
1、原子熒光的知識要點如下:基本概念:原子熒光光譜法:是通過特定波長的光輻射激發(fā)原子蒸氣,受激原子在去激發(fā)過程中發(fā)射出特定波長的光輻射,通過檢測這種原子熒光來得出分析數(shù)據(jù)的分析方法。優(yōu)點:譜線簡單:原子熒光光譜的譜線相對簡單,易于分辨。靈敏度高:該方法對痕量元素的檢測具有很高的靈敏度。
2、原子熒光光譜儀(AFS)知識要點 原子熒光的優(yōu)點包括:譜線簡單、靈敏度高、檢出限低、多元素分析。 熒光強度與被測物濃度呈線性關系,低濃度下簡單,但濃度增加影響工作曲線。 原子熒光強度受激發(fā)光源強度限制,光源強度增加受限于譜線展寬、自吸、散射效應。
X射線熒光光譜(XRF)測試原理是使用X光照射樣品,樣品內(nèi)部的元素會因外層電子被激發(fā)而發(fā)射出特定能量的特征X光。不同元素發(fā)射的X光能量或波長特性各不相同。所使用儀器型號為Thermal X-Ray on,配備銠靶(Rh),X射線管壓最高可達60kv,最大電流為150mA。
XRF指的是X射線熒光光譜儀,可以快速同時對多元素進行測定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷而發(fā)出次級X射線(X-熒光)。
XRF測試,即X射線熒光光譜分析,是通過X射線激發(fā)樣品,利用原子內(nèi)層電子躍遷釋放的特征X射線進行元素測定的非破壞性技術。主要分為能量散射型(EDXRF)和波長散射型(WDXRF),其中EDX更常用,因其體積小、成本低且分析速度快,但WDXRF的分辨率更高。
XRF是X射線熒光光譜法的簡稱。X射線熒光光譜法是一種常用的分析化學技術。以下是關于XRF的 基本定義:XRF即X射線熒光光譜法,是一種非破壞性的分析方法。它通過測量物質在受到X射線激發(fā)時所發(fā)出的特征X射線熒光,來分析物質的元素組成及其含量。
X射線熒光光譜分析(XRF)是一種分析技術,其基礎原理是將X射線照射在物質上而產(chǎn)生的次級X射線,也就是X射線熒光(X—Ray Fluorescence)。原級X射線(激發(fā)源)用于激發(fā)被測樣品,而樣品中的每一種元素在受到激發(fā)后會放射出具有特定能量或波長特性的二次X射線。
X射線熒光光譜儀,簡稱XRF,是一種快速同時測定多元素的儀器。在X射線激發(fā)下,原子內(nèi)層電子發(fā)生能級躍遷產(chǎn)生次級X射線,即X-熒光。按不同描述角度,XRF可分為能量散射型EDXRF或EDX與波長散射型WDXRF或WDX。EDX在使用上較流行,通過X射線管照射樣品,特征X射線進入Si(Li)探測器實現(xiàn)定性和定量分析。
1、以激光染料Rhodamine為例,進行時間分辨熒光光譜測試時,采用了500ps門控模塊和單光子計數(shù)模式。
2、熒光發(fā)射即為一種常見的輻射去活過程,它通常是指電子發(fā)生自S1態(tài)至S0態(tài)的躍遷,同時放出光子的過程,這一過程的時間通常在10-10~10-7s。利用光學儀器檢測熒光發(fā)射的強度隨時間的變化,即可得到體系的熒光壽命信息。
3、短脈沖激光:Q開關技術(Q-Switching) 能夠達到ns范圍內(nèi)的脈沖持續(xù)時間,重復頻率較低但總脈沖能量更高。時間分辨熒光光譜:熒光上轉換(Fluoreszenz-Upconversion) 利用非線性光學晶體生成總頻率。時間分辨熒光光譜:時間相關的單光子計數(shù)(TCSPC) 用于測量隨時間快速變化的光強度,主要應用在熒光壽命的測量。
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