1、庫侖測(cè)厚法。切片顯微測(cè)厚法 X熒光測(cè)厚法 原理：在X射線照射下，各種金屬原子會(huì)激發(fā)出特征波長的X射線，特征X射線的強(qiáng)度在一定厚度范圍內(nèi)與該金屬鍍層厚度存在定量關(guān)系。使用儀器：X熒光測(cè)厚儀 測(cè)量步驟：a、根據(jù)樣品特性建立并校準(zhǔn)程式（第一次使用）。b、將樣品放入樣品臺(tái)并使被測(cè)表面水平。
1、型鍍亮錫，溫度都不能太高。一般15-30℃。
2、無論是硫酸型還是甲基磺酸型鍍亮錫，溫度都不能太高。一般15-30℃。
3、使用連續(xù)鍍亮錫添加劑時(shí)，鍍層容易變色的原因主要有以下5點(diǎn)：1：光亮劑問題：添加劑中某些成分可能會(huì)夾雜在鍍層中，當(dāng)光亮劑含量過多時(shí)，有機(jī)物含量隨之增加，就容易導(dǎo)致鍍層變色。
4、電鍍亮錫鍍層發(fā)白核心原因解析如下： 前處理不徹底 油污殘留：基材表面未完全脫脂，鍍層與基體結(jié)合力下降，鍍層呈霧狀發(fā)白，氧化膜未除凈：銅基材氧化層未徹底去除，鍍層附著力差導(dǎo)致局部發(fā)白脫皮。
1、膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀，分為手持式和臺(tái)式二種，手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀，電渦流鍍層測(cè)厚儀，熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
2、綜上所述，膜厚儀的電渦流測(cè)量原理是一種利用高頻交流信號(hào)在導(dǎo)體中產(chǎn)生渦流，并通過測(cè)量渦流大小來反映覆層厚度的方法。
3、電鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量原理基于電渦流效應(yīng)。當(dāng)高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中激發(fā)時(shí)，會(huì)形成電磁場(chǎng)。當(dāng)測(cè)頭接近導(dǎo)體時(shí)，會(huì)在導(dǎo)體內(nèi)部產(chǎn)生渦流，渦流的大小與測(cè)頭與導(dǎo)電基體的距離成反比。渦流的反射阻抗會(huì)隨距離減小而增大，這種反饋效應(yīng)直接反映了覆層厚度的信息。
4、測(cè)量范圍與要求： 電渦流測(cè)厚儀理論上可以測(cè)量所有導(dǎo)電體上非導(dǎo)電覆層的厚度，但要求兩者導(dǎo)電率的差異至少在35倍以上，例如銅上鍍鉻。 對(duì)于鐵磁性的基體，磁性測(cè)厚法可能更為適合。
5、與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。
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