非接觸式測(cè)厚儀有X射線測(cè)厚儀、Y射線測(cè)厚儀（主要有鋸和鈍兩種）、超聲波、紅外線和激光測(cè)厚儀。前兩種為放射線測(cè)厚儀，它們是根據(jù)一定能量的射線穿過鋼板時(shí)，射線衰減強(qiáng)度與鋼板厚度有一定關(guān)系的原理做成的。射線由射線源發(fā)出后、一般由下而上經(jīng)鋼板吸收一部分，剩下的被檢測(cè)器接受。當(dāng)被測(cè)空間無鋼板時(shí)，使用已知厚度的基準(zhǔn)板校正。
磁性測(cè)厚法：適用對(duì)象：適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。特點(diǎn)：測(cè)量精度高，是常用的鍍層厚度測(cè)量方法之一。渦流測(cè)厚法：適用對(duì)象：適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。特點(diǎn)：較磁性測(cè)厚法精度稍低，但仍然是廣泛應(yīng)用的測(cè)量方法。電解測(cè)厚法：適用對(duì)象：適用于需要破壞涂鍍層進(jìn)行測(cè)量的情況。
鍍層測(cè)厚儀磁性測(cè)厚法：適用層磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。鍍層測(cè)厚儀渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。鍍層測(cè)厚儀電解測(cè)厚法：不屬于無損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，精度較低，測(cè)量起來比較麻煩。
磁性測(cè)厚法適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料通常包括鋼、鐵、銀和鎳等。這種方法具有較高的測(cè)量精度，能夠滿足大多數(shù)工業(yè)應(yīng)用的需求。渦流測(cè)厚法則適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。盡管其精度相較于磁性測(cè)厚法稍低，但在某些場(chǎng)合下仍被廣泛使用。
鍍層測(cè)厚儀具有多種測(cè)量方法，包括磁性測(cè)厚法、渦流測(cè)厚法、電解測(cè)厚法、放射測(cè)厚法和超聲波測(cè)厚法。磁性測(cè)厚法適用于導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量，導(dǎo)磁材料通常為鋼、鐵、銀、鎳等。這種方法測(cè)量精度高，是較為常用的測(cè)量方法。渦流測(cè)厚法則適用于導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。
鍍層厚度分析測(cè)試方法主要包括以下幾種： 金相法 適用范圍：適合測(cè)量大于1um的局部厚度。 測(cè)試原理：通過顯微鏡放大觀察鍍層的截面，從而測(cè)量其厚度。 樣品要求：需要指定測(cè)量部位。 庫(kù)侖法 適用范圍：能精準(zhǔn)測(cè)定單層或多層金屬覆蓋層，尤其適用于鎳鍍層的測(cè)量。
涂鍍層厚度測(cè)試及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)如下：涂鍍層厚度測(cè)試方法 金相測(cè)厚：適用范圍：適用于厚度超過1μm的金屬膜層測(cè)量。原理：使用金相顯微鏡觀察并拍照測(cè)量膜層厚度。相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 646ISO 146ASTM B487等。X射線熒光測(cè)厚：適用范圍：電鍍應(yīng)用中較為穩(wěn)定且費(fèi)用較低，適合快速測(cè)試。
1、金相顯微鏡：利用金相顯微鏡對(duì)金屬鍍層進(jìn)行放大，以便準(zhǔn)確地觀察及測(cè)量鍍層厚度。X射線熒光光譜法：通過X射線熒光光譜法測(cè)量鍍層中的元素含量，進(jìn)而計(jì)算出鍍層厚度。原子力顯微鏡：利用原子力顯微鏡對(duì)鍍層表面進(jìn)行原子級(jí)分辨成像，以便準(zhǔn)確地測(cè)量鍍層厚度。
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