今天小編來給大家分享一些關(guān)于激光粒度儀測(cè)試濃度太低的原因激光粒度儀怎么調(diào)方面的知識(shí)吧，希望大家會(huì)喜歡哦
1、先打開計(jì)算機(jī)，然后打開儀器電源開關(guān)，預(yù)熱半小時(shí)左右，使激光器輸出功率穩(wěn)定。準(zhǔn)備一干凈的比色皿，表面須用酒精等清洗干凈，然后晾干，確保表面無異物。然后在比色皿中注入純凈水，水面的高度為比色皿高度的2/3左右，注意水的表面一定要蓋過激光束在比色皿上5mm的位置。
2、將儀器的主電源開關(guān)打開，在開啟計(jì)算機(jī)的設(shè)備程序前需要預(yù)熱儀器15到20分鐘。將泵機(jī)以及超聲波振動(dòng)儀的開關(guān)打開，同時(shí)檢查儀器設(shè)備的運(yùn)行是否正常。設(shè)置泵機(jī)速度，樣品的性質(zhì)不同，泵機(jī)的速度也不同。根據(jù)需要開啟超聲波儀并確定強(qiáng)度。
3、激光粒度分析儀零軸調(diào)不出來是儀器故障。調(diào)試方法：檢查電、水等線路，就緒后接通外電源。打開粒度儀電源開關(guān)，電源指示燈發(fā)亮即可。
4、將樣品裝入樣品槽中。打開設(shè)備電源，等待儀器預(yù)熱15分鐘。調(diào)整儀器參數(shù)，包括激光線路、焦距和倍率。啟動(dòng)儀器，開始測(cè)量樣品顆粒大小。儀器完成測(cè)量后，將結(jié)果轉(zhuǎn)化為所需的數(shù)據(jù)格式。將結(jié)果保存并分析。
5、先測(cè)量電子背景和儀器對(duì)光，后加入樣品。確保瓶子中的所有樣品都倒入樣品池中，并在開始測(cè)量前，樣品在樣品池中分散至少30秒。數(shù)據(jù)評(píng)估：數(shù)據(jù)的可接受范圍為Dv50的±2%，Dv10和Dv90的±3%。例如，若中值為686微米，則其可接受范圍為654微米至618微米。
1、對(duì)于歐美克的激光粒度儀來說，遮光比一般控制在5%-15%之間。太高或者太低都會(huì)對(duì)結(jié)果產(chǎn)生影響。
1、測(cè)試顆粒大小，有兩點(diǎn)必須注意。必須使樣品充分的分散開。例如你樣品是用水做介質(zhì)，那么樣品放入水中，還要加分散劑，然后攪拌，必要時(shí)用超聲器。按儀器說明書操作，例如樣品濃度等等。再有，絕大多數(shù)顆粒是非球形的，不同原理的粒度儀測(cè)出的數(shù)據(jù)自然不同。
2、因此，我們可以借助激光粒度分析儀，來約定抹茶的細(xì)度。
3、為了好理解，我假定氧化鐵粒徑d20=10微米，解釋起來也就是說您檢測(cè)的這批氧化鐵粉體中有20%小于10微米，換句話說，小于10微米的氧化鐵微粒占了這批氧化鐵粉體的20%。這一般是激光粒度儀測(cè)量出的參數(shù)。是對(duì)粉體粒徑范圍和分布的測(cè)量表示。粒度分析，潤(rùn)之科技為您解
4、粉體顆粒大小稱顆粒粒度。由于顆粒形狀很復(fù)雜，通常有篩分粒度、沉降粒度、等效體積粒度、等效表面積粒度等幾種表示方法。篩分粒度就是顆粒可以通過篩網(wǎng)的篩孔尺寸，以1英寸（24mm）寬度的篩網(wǎng)內(nèi)的篩孔數(shù)表示，因而稱之為“目數(shù)”。
5、粒度數(shù)據(jù)的圖示法通常是以橫坐標(biāo)（x軸）列出顆粒粒度，以縱坐標(biāo)（y軸）列出測(cè)得的基準(zhǔn)量。表示數(shù)量有兩種方法：一種是列出每一粒級(jí)中的量（絕對(duì)量，分?jǐn)?shù)，或百分?jǐn)?shù)），另一種方法是列出高于或低于某一粒度的累計(jì)量（分?jǐn)?shù)或百分?jǐn)?shù)）。
激光粒度法測(cè)試粉末粒徑分布準(zhǔn)確性主要受以下因素影響：粉末的團(tuán)聚性：納米級(jí)粉末由于粒徑小，表面能高，容易發(fā)生團(tuán)聚，從而影響測(cè)試的準(zhǔn)確性。團(tuán)聚的粉末顆粒在測(cè)試中可能被誤認(rèn)為是較大的單一顆粒，導(dǎo)致粒徑分布結(jié)果偏大。超聲分散時(shí)間：適當(dāng)?shù)某暦稚r(shí)間可以有效分散粉末顆粒，減少團(tuán)聚現(xiàn)象，從而提高測(cè)試的準(zhǔn)確性。
第一，做材料研究的人們往往會(huì)期望自己的粉體材料粒度分布盡可能均勻和理想，因此他們希望能夠看到正態(tài)分布的測(cè)試結(jié)果。第二，激光粒度儀在出現(xiàn)故障或者儀器狀態(tài)不正常的情況下，有時(shí)會(huì)表現(xiàn)出測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)亂峰（多個(gè)微粉分布峰值），導(dǎo)致粒度分布曲線看起來不漂亮。
這個(gè)誤會(huì)來源于兩點(diǎn)：做材料的人潛意識(shí)希望自己做出的粉體材料粒度分布均勻理想，期望測(cè)試出的結(jié)果是正態(tài)分布的。激光粒度儀本身測(cè)試有問題的時(shí)候有時(shí)會(huì)表現(xiàn)出測(cè)試結(jié)果亂峰（有多個(gè)微粉分布峰值，粒度分布曲線看起來不漂亮）。
激光粒度儀測(cè)得的粒徑是顆粒的水合半徑，如果顆粒是通過靜電排斥作用穩(wěn)定懸浮的體系，那么水合半徑與pH值有直接關(guān)系。激光粒徑儀測(cè)量的是水溶液中的顆粒，而SEM觀察的是干燥狀態(tài)下的顆粒粉末。因此，激光粒徑儀測(cè)得的粒徑通常會(huì)比SEM測(cè)量的結(jié)果大幾個(gè)納米。
影響因素：顆粒的大小和形狀會(huì)對(duì)激光粒度的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生顯著影響。因此，激光粒度不僅可以反映顆粒的尺寸信息，還可以在一定程度上反映顆粒的形狀特征。應(yīng)用領(lǐng)域：材料科學(xué)：用于研究鋼鐵材料的質(zhì)量、納米顆粒的品質(zhì)以及醫(yī)用納米材料的性質(zhì)等。
1、LS-C（II）型干法激光粒度儀具有獨(dú)特的設(shè)計(jì)和優(yōu)勢(shì)，首要特點(diǎn)是采用干法分散樣品，有效避免了樣品在液體中可能發(fā)生的物理或化學(xué)變化，確保了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。相較于傳統(tǒng)方法，LS-C（II）的測(cè)試過程無需消耗任何分散介質(zhì)或分散劑，既節(jié)省了成本，又體現(xiàn)出其環(huán)保特性，符合現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)對(duì)可持續(xù)性的要求。
2、其中，LS-C（II）型是LS-C（I）型的升級(jí)版，它在設(shè)計(jì)上進(jìn)行了集成優(yōu)化，外觀更加精致，操作更加簡(jiǎn)便。這款儀器特別適用于那些在水溶液中會(huì)顯著改變化學(xué)和物理性質(zhì)的粉體樣品的粒度測(cè)試，為這類樣品的精確測(cè)量提供了理想的解決方案。
1、儀器設(shè)置錯(cuò)誤：激光粒度儀需要設(shè)置參數(shù)與質(zhì)量參考，參數(shù)錯(cuò)誤或使用異品標(biāo)，也會(huì)導(dǎo)致計(jì)算D90時(shí)出現(xiàn)錯(cuò)誤。系統(tǒng)噪音：激光粒度儀在操作中會(huì)產(chǎn)生一些雜亂光，時(shí)間一長(zhǎng)，儀器被污染就容易產(chǎn)生系統(tǒng)噪音，譜線發(fā)虛時(shí)就會(huì)導(dǎo)原火燒散射峰的移動(dòng)，從而發(fā)生D90異常數(shù)據(jù)處理問題：對(duì)數(shù)據(jù)處理要加強(qiáng)檢查，并注意檢查數(shù)據(jù)是否存在誤差的可能性。
2、D50和D90表示粉體粒徑分析中的重要參數(shù)，通過激光粒度分布儀得出，代表了特定百分比的粒徑值。例如，D50表示50%的粉體粒徑小于或等于111um，D90則為90%的粉體粒徑小于或等于488um。測(cè)量一個(gè)批次粉體的粒徑分布是實(shí)際生產(chǎn)過程中的必要步驟。
3、D50，即中位徑或中值粒徑，代表了累積粒度分布達(dá)到50%時(shí)的粒徑，意味著50%的顆粒物小于或等于這個(gè)粒徑，而另外50%的顆粒物大于這個(gè)粒徑。值得注意的是，D50并不反映粉體的平均粒度，粉體的平均粒度由其他參數(shù)如D（4，3）、D（3，2）等表示。
4、框一是測(cè)量的特征值。比如D10，D50，D90等參數(shù)，假如D90=10um，意思是小于10um的顆粒占了90%，換句話樣品中90%的顆粒小于10um，同理其他；還有以粒徑點(diǎn)的參數(shù)，小于75um的占比等。
5、橫坐標(biāo)為顆粒直徑。D10就是縱坐標(biāo)累計(jì)分布10%所對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)直徑值；D50就是縱坐標(biāo)累計(jì)分布50%所對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)直徑值；D90就是縱坐標(biāo)累計(jì)分布90%所對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)直徑值。D50也叫中位徑或中值粒徑，D50常用來表示粉體的平均粒度。它的物理意義是粒徑大于它的顆粒占50%，小于它的顆粒也占50%。
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