電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)內(nèi)容簡(jiǎn)介

1、目的：射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)是電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)中的一項(xiàng)重要內(nèi)容，旨在評(píng)估電子設(shè)備在射頻電磁場(chǎng)輻射環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。該試驗(yàn)主要針對(duì)無(wú)線(xiàn)通信設(shè)備，確保它們?cè)跓o(wú)線(xiàn)信號(hào)環(huán)境中仍能穩(wěn)定運(yùn)行。

射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng)3ctest測(cè)試方法

射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng)3ctest測(cè)試方法主要包括以下幾種：自由場(chǎng)法：標(biāo)準(zhǔn)：按照ISO 114522標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。測(cè)試電平：100V/m。頻率范圍：80MHz至2GHz。測(cè)試環(huán)境：在電波暗室內(nèi)的木質(zhì)或非導(dǎo)電臺(tái)架上進(jìn)行，將電子電器組件置于天線(xiàn)產(chǎn)生的電磁場(chǎng)中進(jìn)行暴露測(cè)試。橫電磁波小室法：標(biāo)準(zhǔn)：依據(jù)ISO114523。

ctest 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：3ctest是國(guó)內(nèi)知名的EMC測(cè)試儀器品牌，其產(chǎn)品在抗擾度測(cè)試方面具有較高的性能，如ESD、EFT、浪涌等測(cè)試項(xiàng)目。推薦理由：3ctest的產(chǎn)品在國(guó)內(nèi)市場(chǎng)占有較高的份額，用戶(hù)反饋良好，且其技術(shù)實(shí)力和售后服務(wù)均得到廣泛認(rèn)可。

溫箱GWS廣五所與電源線(xiàn)抗擾測(cè)試3Ctest APS40C05+TIS700X，為電子設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性和抗干擾性提供測(cè)試環(huán)境。24通道電池模擬器恩智測(cè)控（NGI） N8331A與BMS測(cè)試臺(tái)架研華科技 IPC-510+瑞能 BMS電池管理測(cè)試系統(tǒng)，為電池管理系統(tǒng)與電池組的性能測(cè)試提供了專(zhuān)業(yè)平臺(tái)。

射頻抗擾度測(cè)試系統(tǒng)采用多種測(cè)試方法以確保電子電器組件（ESA）的電磁兼容性。首先，自由場(chǎng)法按照ISO 11452-2標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行，測(cè)試電平為100V/m，頻率范圍涵蓋80MHz至2GHz。試驗(yàn)在電波暗室內(nèi)的木質(zhì)或非導(dǎo)電臺(tái)架上進(jìn)行，ESA置于天線(xiàn)產(chǎn)生的電磁場(chǎng)中進(jìn)行暴露測(cè)試。

GTEM小室在EMC試驗(yàn)中的應(yīng)用

GTEM小室在EMC試驗(yàn)中的應(yīng)用主要是在射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)和輻射發(fā)射測(cè)試中。 射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)： 強(qiáng)電場(chǎng)產(chǎn)生：GTEM小室能夠產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度遠(yuǎn)大于天線(xiàn)產(chǎn)生的場(chǎng)強(qiáng)，因此使用小功率放大器即可產(chǎn)生所需的強(qiáng)電場(chǎng)，從而降低了測(cè)試系統(tǒng)的成本。

GTEM小室也可用于輻射發(fā)射測(cè)試，接收試品工作過(guò)程中產(chǎn)生的輻射騷擾。操作方法包括：將被試品置于GTEM小室內(nèi)；外接干擾接收機(jī)，接收輻射騷擾電平；設(shè)置掃描頻率范圍和檢波方式；測(cè)試被試品的輻射騷擾電平值；通過(guò)計(jì)算機(jī)及軟件處理數(shù)據(jù)，得到最終測(cè)試結(jié)果。

電磁兼容（EMC）試驗(yàn)主要包括以下類(lèi)型：輻射發(fā)射測(cè)試（Radiated Emission Test）：目的：測(cè)試設(shè)備在正常工作狀態(tài)下產(chǎn)生的電磁輻射強(qiáng)度，確保符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。常用方法：GTEM小室測(cè)試、半電波暗室測(cè)試、全電波暗室測(cè)試等。

·EMC：電磁兼容（Electro Magnetic Compatibility），確保設(shè)備在電磁環(huán)境中正常運(yùn)行且不干擾其他設(shè)備的技術(shù)。·EUT：受試設(shè)備（Equipment Under Test），在電磁兼容測(cè)試中被測(cè)試的設(shè)備。·FAR：全電波暗室（Fully Anechoic Room），一種屏蔽室，用于進(jìn)行電磁波輻射測(cè)試。

什么是EMC測(cè)試

1、EMC測(cè)試是電磁兼容性測(cè)試，關(guān)注設(shè)備在電磁環(huán)境中運(yùn)行時(shí)，能否滿(mǎn)足電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的要求，并且不會(huì)對(duì)系統(tǒng)中的其他設(shè)備產(chǎn)生電磁干擾。EMC測(cè)試包括了對(duì)設(shè)備的電磁干擾和電磁敏感度進(jìn)行評(píng)估，確保產(chǎn)品在使用過(guò)程中對(duì)外界的干擾和自身受到的干擾都在可接受范圍內(nèi)。

2、EMC測(cè)試又稱(chēng)為電磁兼容性（EMC）測(cè)試，旨在評(píng)估電子設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能否正常運(yùn)行，同時(shí)不會(huì)對(duì)其周?chē)O(shè)備產(chǎn)生不可承受的電磁干擾。EMC測(cè)試包含兩個(gè)主要部分：電磁干擾（EMI）和電磁抗擾度（EMS）。EMI測(cè)試關(guān)注電子設(shè)備對(duì)外界電磁環(huán)境的干擾程度，而EMS測(cè)試關(guān)注設(shè)備對(duì)電磁環(huán)境的敏感度。

3、EMC測(cè)試是什么？EMC測(cè)試是對(duì)設(shè)備或系統(tǒng)在電磁環(huán)境中是否能正常工作并對(duì)其環(huán)境中的任何設(shè)備產(chǎn)生可接受的電磁干擾能力的評(píng)估。其目的是檢測(cè)設(shè)備所產(chǎn)生的電磁輻射對(duì)周?chē)h(huán)境和設(shè)備的影響。

射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)儀器

1、信號(hào)發(fā)生器（主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動(dòng)或手動(dòng)掃描、掃描點(diǎn)上的留駐時(shí)間可設(shè)定、信號(hào)的幅度能自動(dòng)控制等）。（2）功率放大器（要求在1m法、3m法或10m法①的情況下，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場(chǎng)強(qiáng)。對(duì)于小產(chǎn)品，也可以采用lm法進(jìn)行測(cè)試，但當(dāng)lm法和3m法的測(cè)試結(jié)果有出入時(shí)，以3m法為準(zhǔn)）。

2、射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)： 強(qiáng)電場(chǎng)產(chǎn)生：GTEM小室能夠產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度遠(yuǎn)大于天線(xiàn)產(chǎn)生的場(chǎng)強(qiáng)，因此使用小功率放大器即可產(chǎn)生所需的強(qiáng)電場(chǎng)，從而降低了測(cè)試系統(tǒng)的成本。 自動(dòng)測(cè)試便捷：GTEM小室無(wú)需使用天線(xiàn)，這使得自動(dòng)測(cè)試變得更加方便，同時(shí)也減少了測(cè)試時(shí)間和技術(shù)要求。

3、GTEM小室在電磁兼容測(cè)試中的應(yīng)用 GTEM小室作為替代戶(hù)外開(kāi)闊場(chǎng)的測(cè)試環(huán)境，因其性能完善而廣泛應(yīng)用。它適用于射頻輻射電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn)，產(chǎn)生的電場(chǎng)強(qiáng)度遠(yuǎn)大于天線(xiàn)產(chǎn)生的場(chǎng)強(qiáng)，使用小功率放大器即可產(chǎn)生強(qiáng)電場(chǎng)，降低測(cè)試系統(tǒng)成本。此外，無(wú)需使用天線(xiàn)，方便自動(dòng)測(cè)試，減少測(cè)試時(shí)間及技術(shù)要求。

4、綜上所述，IEC 6100043/GB T 17623射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)是確保電子設(shè)備在射頻電磁場(chǎng)輻射環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行的重要測(cè)試手段。通過(guò)嚴(yán)格的測(cè)試和整改措施，可以有效提高設(shè)備的抗干擾能力和穩(wěn)定性。

5、模擬： IEC 61000-4-3：2006年埃爾ectro磁兼容性（EMC） -第4-3：試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)-輻射，射頻，電磁場(chǎng)抗擾度試驗(yàn) 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)EN 61000 - 4 - 3：2006定義了電氣和電子設(shè)備對(duì)輻射電磁場(chǎng)抗擾度的要求。該標(biāo)準(zhǔn)包括測(cè)試級(jí)別、程序和設(shè)置，但未規(guī)定通過(guò)/失敗標(biāo)準(zhǔn)，需結(jié)合通用和特定產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)使用。

6、測(cè)試方法：在測(cè)試中，通常使用射頻信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生特定頻率和強(qiáng)度的射頻電磁場(chǎng)，模擬無(wú)線(xiàn)通信環(huán)境中的射頻干擾。被測(cè)設(shè)備置于該射頻電磁場(chǎng)中，通過(guò)觀(guān)察其在干擾下的工作狀態(tài)，評(píng)估其抗擾度性能。重要性：射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)對(duì)于確保電子設(shè)備在復(fù)雜電磁環(huán)境下的正常工作具有重要意義。