1、測量原理：磁性測厚儀：通過測量導(dǎo)磁材料的磁阻變化來確定覆蓋層厚度，基于磁吸力和磁感應(yīng)兩種機(jī)制。渦流測厚儀：通過高頻電流在探頭線圈中產(chǎn)生磁場，使被測金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流，渦流反作用于探頭線圈改變其阻抗，阻抗變化量與覆蓋層厚度相關(guān)。適用材料：磁性測厚儀：適用于鐵磁金屬表面上的噴鋁層、塑料層、電鍍層等非磁性覆蓋層的厚度檢測。
1、原理：當(dāng)X射線照射樣品時(shí)，若樣品含有鍍層，射線穿過鍍層界面時(shí)會(huì)發(fā)生信號(hào)變化。通過分析這種信號(hào)變化，可以推斷出鍍層的厚度。這一原理基于這樣的假設(shè)：對(duì)于同種材料無限厚的樣品，X射線返回的強(qiáng)度與材料厚度成正比。需要注意的是，當(dāng)兩層材料含有相同的元素時(shí)，由于信號(hào)重疊，測量會(huì)變得困難。
2、原理：一個(gè)半徑精確已知的磨球由自身重力作用于鍍膜試樣表面并進(jìn)行自轉(zhuǎn)。在測試過程中，磨球與試樣的相對(duì)位置以及施加于試樣的壓力保持恒定。磨球與試樣間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)以及金剛石顆粒研磨液的共同作用將試樣表面磨損出一球冠形凹坑。隨后的金相顯微鏡觀測可以獲得磨損坑內(nèi)涂層和基體部分投影面積的幾何參數(shù)。
3、采用電渦流原理的涂層測厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。
4、其基本原理如下：X射線發(fā)射：XRF鍍層測厚儀內(nèi)置的X射線源發(fā)射X射線，X射線穿過待測涂層并作用于樣品下方的探測器。X射線熒光反應(yīng)：樣品表面的涂層對(duì)X射線產(chǎn)生熒光反應(yīng)，釋放出特征X射線，特征X射線能量與涂層材料相關(guān)。特征X射線檢測：探測器接收到特征X射線，并將其轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，通過電路傳輸至儀器內(nèi)部。
X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。 隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。
采用電渦流原理的涂層測厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。
原理：基于電磁感應(yīng)原理。適用基體：鋼、鐵等鐵磁性金屬。適用涂層：非鐵磁性涂層，如漆、塑料、橡膠等。應(yīng)用場景：制造業(yè)、金屬加工業(yè)等領(lǐng)域。N型測厚儀：原理：采用電渦流原理。適用基體：銅、鋁、鋅等非鐵磁性基體。適用涂層：非導(dǎo)電覆蓋層，如琺瑯、油漆和塑料。應(yīng)用場景：化工業(yè)和商檢等檢測場景。
渦流測厚+磁性測厚的便攜式涂層測厚儀，其測量原理包括電渦流測量和磁性測量兩個(gè)方面。在電渦流測量中，利用高頻交流信號(hào)產(chǎn)生的電磁場與測頭和導(dǎo)電基體間距離的關(guān)系，反映出涂層的厚度。而在磁性測量中，則是基于磁阻和磁通量與涂層厚度之間的關(guān)聯(lián)，通過檢測磁通量的大小來計(jì)算涂層厚度。
采用電渦流原理的測厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。
采用電渦流原理的涂層測厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。
臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計(jì)算二次熒光的能量來計(jì)算厚度值·采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
渦流測厚原理：應(yīng)用高頻交電流在線圈中形成一個(gè)電磁場，當(dāng)測頭與遮蓋層接觸時(shí)，金屬基體上出現(xiàn)電渦流，并對(duì)測頭中的線圈產(chǎn)生反應(yīng)作用，經(jīng)過測量反應(yīng)作用的大小可導(dǎo)出遮蓋層的厚度。
因有放射源，使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時(shí)采用。
金屬鍍層測厚儀是一種用于測量金屬表面鍍層或涂層厚度的儀器。它采用磁性測量原理或電渦流測量原理，通過測量金屬表面鍍層或涂層的電阻值、電導(dǎo)率或磁場強(qiáng)度等參數(shù)，來計(jì)算出其厚度。金屬鍍層測厚儀通常由傳感器、測量電路和顯示單元三部分組成。
1、渦流測厚+磁性測厚的便攜式涂層測厚儀，其測量原理包括電渦流測量和磁性測量兩個(gè)方面。在電渦流測量中，利用高頻交流信號(hào)產(chǎn)生的電磁場與測頭和導(dǎo)電基體間距離的關(guān)系，反映出涂層的厚度。而在磁性測量中，則是基于磁阻和磁通量與涂層厚度之間的關(guān)聯(lián)，通過檢測磁通量的大小來計(jì)算涂層厚度。這兩種原理分別適用于不同類型的基體和涂層。
2、科電貿(mào)易MC-2000A型（渦流）涂層測厚儀適合測厚小工件和薄涂層厚度，MC-2000A型（渦流）涂層測厚儀是一種小型儀器，采用渦電流測量原理，可以方便無損地測量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。
3、科電貿(mào)易MC-3000S/FN2兩用分體式涂層測厚儀具有溫度補(bǔ)償功能： 配有科電最新“鎖相環(huán)”技術(shù)，具有屏幕翻轉(zhuǎn)功能： 可以手動(dòng)選擇翻轉(zhuǎn)顯示測量數(shù)據(jù)，測量速度：根據(jù)不同的應(yīng)用場合客戶可以選擇單次測量和連續(xù)測量兩種測量速度，可采用三種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。
1、科電貿(mào)易MC-2000A型（渦流）涂層測厚儀適合測厚小工件和薄涂層厚度，MC-2000A型（渦流）涂層測厚儀是一種小型儀器，采用渦電流測量原理，可以方便無損地測量有色金屬基體上的油漆、塑料、橡膠等涂層，或者是鋁基體上的陽極氧化膜厚度等。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。
2、涂層測厚儀的應(yīng)用廣泛，不僅可用于測量磁性金屬基體表面的油漆、搪瓷、塑料、防腐涂層、防火涂層等，還能測量非導(dǎo)電基體上的涂層，如家電、鋁合金門窗、非磁性金屬基材表面的塑料涂層以及陽極氧化膜等。選擇合適的涂層測厚儀時(shí)，需要考慮測量場合、測量范圍以及被測材料等因素。
3、全量程的應(yīng)用范圍 科電儀器涂層測厚儀能夠測量各種形狀、厚度、位置和材料的工件涂鍍層厚度，包括1250微米、5000微米和10000微米三個(gè)量程，涵蓋了大多數(shù)工業(yè)現(xiàn)場的需求。覆蓋全面的儀器種類 科電儀器提供MC-2000、MC-3000以及正在研發(fā)的MC-3001系列涂鍍層測厚儀。
4、科電貿(mào)易MC-3000S FN30涂層測厚儀它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場。通過使用不同的測頭，還可滿足多種測量的需要。本儀器能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
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