手機(jī)要做哪些高低溫試驗(yàn)

1、高溫高濕存貯試驗(yàn)要求手機(jī)在開(kāi)機(jī)狀態(tài)下，置于55℃、濕度93%RH的環(huán)境中72小時(shí)，測(cè)試完成后靜置2小時(shí)進(jìn)行功能、電性能、外觀檢測(cè)。期間，使用普通透明膠帶粘貼鍵盤(pán)，每次持續(xù)1分鐘，剝離時(shí)間控制在1秒內(nèi)，重復(fù)三次，檢查鍵盤(pán)是否有漆層脫落或鍵盤(pán)脫落故障。

高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

進(jìn)行高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的操作，需要遵循以下步驟： 設(shè)定試驗(yàn)條件：首先，根據(jù)產(chǎn)品特性，設(shè)置試驗(yàn)箱的溫度、濕度以及持續(xù)時(shí)間等參數(shù)。確保這些條件符合GB/T 2424-2008標(biāo)準(zhǔn)的要求。 準(zhǔn)備試樣：將待測(cè)產(chǎn)品放置在試驗(yàn)箱內(nèi)，確保產(chǎn)品與箱體之間有足夠的空間，以便于空氣流通。

GB2421-2008低溫試驗(yàn)方法；GB2422-2008高溫試驗(yàn)方法；GB2423-2006恒定濕熱試驗(yàn)。

本產(chǎn)品滿足GB/T 2421-2008試驗(yàn)A《低溫試驗(yàn)方法》；GB/T 2422-2008試驗(yàn)B《高溫試驗(yàn)方法》；GB/T 2423-2006試驗(yàn)C《恒定濕熱方法》；GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)制造，可進(jìn)行各種高低溫濕熱環(huán)境試驗(yàn)。

GB/T2421-2001低溫試驗(yàn)方法；GB/T2422-2001高溫試驗(yàn)方法；GB/T24222-1989溫度變化試驗(yàn)N；國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86；國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86；國(guó)軍標(biāo)GJB150.5-86；GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；GJB362-87405溫度沖擊試驗(yàn)。

區(qū)別：高低溫試驗(yàn)箱主要是溫度變化濕度恒定的環(huán)境，高低溫交變?cè)囼?yàn)箱是溫度變換且濕熱交替的環(huán)境。相同點(diǎn)：都可適用耐高溫、耐低溫、耐濕熱測(cè)試試驗(yàn)。

HAST及PCT試驗(yàn)箱JESD22試驗(yàn)方法說(shuō)明

綜上所述，HAST及PCT試驗(yàn)箱JESD22試驗(yàn)方法涵蓋了多種溫濕度條件下的可靠性評(píng)估，通過(guò)不同的試驗(yàn)條件和目的，可以全面評(píng)估非氣密性封裝IC器件在濕度環(huán)境下的可靠性，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)和質(zhì)量控制提供重要依據(jù)。

HAST及PCT試驗(yàn)箱JESD22試驗(yàn)方法說(shuō)明 本文將詳細(xì)介紹HAST及PCT試驗(yàn)箱的JESD22試驗(yàn)方法，包括HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)和PCT高壓蒸煮試驗(yàn)。HAST試驗(yàn)箱主要通過(guò)高溫、高濕條件加速評(píng)估非氣密性封裝IC器件在濕度環(huán)境下的可靠性。

試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間。測(cè)試條件（包括溫度、相對(duì)濕度等）。試驗(yàn)后的測(cè)量方法和標(biāo)準(zhǔn)。通過(guò)遵循JESD22-A118B無(wú)偏壓HAST加速水汽抵抗性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，可以更有效地評(píng)估非密封封裝固態(tài)器件在潮濕環(huán)境中的可靠性，揭示潛在的失效機(jī)制，并為產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和改進(jìn)提供有力支持。