涂層厚度分析儀:X射線熒光光譜技術在無損檢測中的應用

1、無損檢測XRF技術的最大優(yōu)點之一是無損檢測。它不需要切割、刮擦或破壞樣品，因此非常適合于成品檢測和在線質量控制。這一特點使得涂層厚度分析儀在工業(yè)生產中得到了廣泛應用，特別是在對成品進行最終檢驗時，能夠避免對產品造成任何損傷。高精度和高效率涂層厚度分析儀能夠在短時間內提供高精度的測量結果。

電鍍層厚度如何測量?銅基鎳鍍層,除熒光光譜儀、電解測厚儀外有沒有其...

檢測鍍鋅層厚度的方法包括電解庫侖化學重量法、X射線熒光光譜儀測量以及使用涂層測厚儀如PD-CT2 plus。 電解庫侖化學重量法操作較慢，至少需要半小時完成。 光譜儀成本高，起價至少二十萬，并且不便攜帶。 當基材厚度達到0.5mm以上時，可以使用PD-CT2 plus涂層測厚儀進行測量。

最準確的是電解重量法或者用X熒光光譜儀測量。電解庫侖化學重量法太慢，最快也要半小時。光譜儀造價昂貴，二十萬起，攜帶不方便?；暮穸?.5mm以上的鍍層可以用PD-CT2 plus涂層測厚儀，我們鍍鋅板28g/㎡（雙面）顯示0μm，14g/㎡（單面），可以說非常準，非常方便。

測厚儀好的是德國菲希爾的，手持的只能測鍍鋅層厚度，不能測鉻。涂鍍層測厚儀 PD-CT2 PLUS（增強型）PD-CT2 PLUS是一款增強型覆層測厚儀，能夠直接顯示覆層的厚度和重量，尤其適用于鋼板及鋼帶表面鍍鋅層重量的測量。

鍍層測厚儀的工作原理

1、鍍層測厚儀的工作原理主要依賴于X射線的特性。當它照射在待測樣品上時，部分X射線會被樣品表面的金屬鍍層反射回來。關鍵的測量環(huán)節(jié)是通過分析反射回來的X射線強度，間接推斷出鍍層的厚度。這種儀器的一大優(yōu)點是采用了非接觸式測量方式，僅施加45-75瓦的低能量X射線，確保了對樣品的微小影響，避免了潛在的損壞風險。

2、工作原理：MC-3000系列涂（鍍）層測厚儀采用電磁感應法測量涂（鍍）層的厚度。具體來說，位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路。隨著探頭與鐵磁性材料間距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，進而引起磁阻及探頭線圈電感的變化。

3、鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。

4、XRF鍍層測厚儀利用X射線熒光原理，能夠實現高精度的涂層厚度測量，且適用于多種材料類型和涂層體系。其優(yōu)勢包括非破壞性、快速測量、高精度、無需對樣品進行特殊處理等。

5、采用電渦流原理的涂層測厚儀，原則上對所有導電基體上的非導電涂層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。涂層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可測量，但要求兩者導電率之比至少相差3-5倍。