今天小編來(lái)給大家分享一些關(guān)于鍍層x射線測(cè)厚儀原理鍍層測(cè)厚儀的工作原理方面的知識(shí)吧，希望大家會(huì)喜歡哦
1、工作原理：MC-3000系列涂（鍍）層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂（鍍）層的厚度。具體來(lái)說(shuō)，位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路。隨著探頭與鐵磁性材料間距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，進(jìn)而引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一物理原理，儀器可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層的厚度。
2、鍍層測(cè)厚儀的工作原理主要依賴于X射線的特性。當(dāng)它照射在待測(cè)樣品上時(shí)，部分X射線會(huì)被樣品表面的金屬鍍層反射回來(lái)。關(guān)鍵的測(cè)量環(huán)節(jié)是通過(guò)分析反射回來(lái)的X射線強(qiáng)度，間接推斷出鍍層的厚度。
3、鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過(guò)從樣品上反射出來(lái)的第二次X射線的強(qiáng)度來(lái)。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆](méi)有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
1、涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理主要分為磁吸力測(cè)量原理、磁感應(yīng)測(cè)量原理和電渦流測(cè)量原理。以下是每種原理的詳細(xì)解釋及對(duì)應(yīng)的測(cè)量方法：磁吸力測(cè)量原理及方法原理：磁吸力測(cè)量原理基于磁鐵（測(cè)頭）與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與兩者之間的距離成一定比例關(guān)系。這個(gè)距離即為覆層的厚度。當(dāng)覆層與基材的導(dǎo)磁率之差較大時(shí)，可利用此原理進(jìn)行測(cè)量。
2、X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。
3、磁性測(cè)量原理：適用于鐵基（如鋼鐵）材料的涂層測(cè)量。通過(guò)測(cè)量探頭與鐵基材料之間的磁吸力變化來(lái)確定涂層的厚度。非磁性測(cè)量原理：適用于非鐵基（如鋁、銅等）材料的涂層測(cè)量。這種原理通常利用超聲波或渦流等物理現(xiàn)象來(lái)測(cè)量涂層的厚度。
4、渦流測(cè)厚+磁性測(cè)厚的便攜式涂層測(cè)厚儀，其測(cè)量原理包括電渦流測(cè)量和磁性測(cè)量?jī)蓚€(gè)方面。在電渦流測(cè)量中，利用高頻交流信號(hào)產(chǎn)生的電磁場(chǎng)與測(cè)頭和導(dǎo)電基體間距離的關(guān)系，反映出涂層的厚度。而在磁性測(cè)量中，則是基于磁阻和磁通量與涂層厚度之間的關(guān)聯(lián)，通過(guò)檢測(cè)磁通量的大小來(lái)計(jì)算涂層厚度。
5、采用電渦流原理的涂層測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。
6、利用這一物理原理，儀器可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂（鍍）層的厚度。應(yīng)用范圍：MC-3000系列涂（鍍）層測(cè)厚儀采用磁性測(cè)厚法，可以方便、無(wú)損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度。這些非磁性涂層包括但不限于：金屬鍍層：如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層。
1、XRF鍍層測(cè)厚儀是一種基于X射線熒光原理的涂層厚度測(cè)量?jī)x器。如下圖：其基本原理如下：X射線發(fā)射：XRF鍍層測(cè)厚儀內(nèi)置的X射線源發(fā)射X射線，X射線穿過(guò)待測(cè)涂層并作用于樣品下方的探測(cè)器。X射線熒光反應(yīng)：樣品表面的涂層對(duì)X射線產(chǎn)生熒光反應(yīng)，釋放出特征X射線，特征X射線能量與涂層材料相關(guān)。
2、在涂層厚度檢測(cè)中，XRF技術(shù)通過(guò)分析鍍層或涂層的特征熒光信號(hào)，計(jì)算出其厚度。由于X射線能夠穿透樣品表面，與樣品內(nèi)部的原子發(fā)生相互作用，因此可以在不破壞樣品的情況下，快速、準(zhǔn)確地獲得涂層厚度的信息。
3、利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。
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