1、電磁法測(cè)厚儀是采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀 ,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。
X射線測(cè)厚儀:此類測(cè)厚儀利用的是當(dāng)X射線穿透被測(cè)材料時(shí),X射線強(qiáng)度的變化與材料厚度相關(guān)聯(lián)的特性,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。
測(cè)厚儀的分類:測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量的原理可以分為好幾種,超聲波、激光、X光射線等等高科技的產(chǎn)物都有應(yīng)用在測(cè)厚儀的發(fā)展上,讓測(cè)量厚度變得更加方便,更加準(zhǔn)確。測(cè)厚儀品牌及價(jià)格:CEM:CEM的這款測(cè)厚儀的價(jià)格在600人民幣左右,是網(wǎng)上的熱賣款。它可以用來(lái)測(cè)量涂鍍層等非常薄的難以測(cè)量的物體。
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同,又可分為以下幾種:激光測(cè)厚儀 超聲波測(cè)厚儀 涂層測(cè)厚儀 X射線測(cè)厚儀 白光干涉測(cè)厚儀 電解式測(cè)厚儀 管厚規(guī) 測(cè)厚儀(thickness gauge )是用來(lái)測(cè)量材料及物體厚度的儀表。
測(cè)厚儀的歸類通常取決于其主要屬性。如果其以電子產(chǎn)品為主,那么它可歸入“電子產(chǎn)品類”。然而,如果它并不屬于電子產(chǎn)品,而是更偏向于器具或工具,那么它可歸入“器具、工具類”。針對(duì)您公司的分類情況,您提到公司分為五類:房屋及建筑物、機(jī)器設(shè)備、電子設(shè)備、運(yùn)輸工具以及其他。
保障消費(fèi)者的權(quán)益,提高生產(chǎn)制造的效率和產(chǎn)品質(zhì)量。 分類方式: 原理分類:磁感式、渦流式、光學(xué)式等不同種類的漆膜測(cè)厚儀。 使用場(chǎng)合分類:手持式、臺(tái)式、便攜式等不同形式的漆膜測(cè)厚儀。漆膜測(cè)厚儀的使用對(duì)于確保產(chǎn)品表面的涂層質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率以及滿足各種行業(yè)規(guī)范具有重要意義。
電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無(wú)損檢測(cè),需要破壞涂鍍層,一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。放射測(cè)厚法:此處儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬(wàn)RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合。國(guó)內(nèi)目前使用最為普遍的是第1/2兩種方法。
1、從字面上看,很多人可能會(huì)認(rèn)為膜厚儀與測(cè)厚儀是同一種儀器,但實(shí)際上,膜厚儀是測(cè)厚儀的一種分類。也就是說(shuō),測(cè)厚儀是一個(gè)更廣泛的范疇,而膜厚儀則是專門用于測(cè)量覆膜薄膜、薄片等材料厚度的儀器。原理差異:膜厚儀的測(cè)量原理多種多樣,手持式的原理有電渦流和磁阻法,臺(tái)式的原理則包括電感原理等很多種。
2、如果是從電鍍測(cè)厚角度來(lái)說(shuō)是一樣的,膜厚儀也叫做鍍層測(cè)厚儀,如下圖;涂層測(cè)厚儀是一種用于測(cè)量樣品表面涂層或薄膜厚度的設(shè)備,通??梢愿鶕?jù)不同的測(cè)量原理和應(yīng)用場(chǎng)景測(cè)量不同類型的涂層。
3、超聲波膜厚儀:使用超聲波對(duì)物體厚度進(jìn)行測(cè)量時(shí),需要選擇合適的聲速,因?yàn)槁曀僭诓煌牧现惺遣煌模x擇正確的聲速是確保測(cè)量準(zhǔn)確性的關(guān)鍵。麥克倫儀器涂層測(cè)厚儀:無(wú)論是磁性法還是渦流法測(cè)厚儀,都不需要選擇聲速,因?yàn)樗鼈兊墓ぷ髟砼c超聲波不同,不受聲速影響。
4、膜厚儀和涂層測(cè)厚儀都是用于測(cè)量材料表面覆蓋層厚度的儀器,但它們?cè)诠ぷ髟怼y(cè)量范圍、精度、應(yīng)用場(chǎng)景等方面存在一些差別。工作原理:膜厚儀通常采用磁性測(cè)量原理或電渦流測(cè)量原理,通過(guò)測(cè)量磁性膜層或金屬膜層的厚度來(lái)確定表面覆蓋層的厚度。
5、涂層測(cè)厚儀是一種專門用于測(cè)量金屬基材上涂鍍層厚度的儀器,也被稱為膜厚儀、鍍層測(cè)厚儀或漆膜測(cè)厚儀。在使用涂層測(cè)厚儀時(shí),需要注意以下幾點(diǎn):首先,對(duì)于磁性測(cè)量方法,標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,以確保測(cè)量準(zhǔn)確性。
6、膜厚儀又名膜厚測(cè)試儀,分為手持式和臺(tái)式二種,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。
本文暫時(shí)沒(méi)有評(píng)論,來(lái)添加一個(gè)吧(●'?'●)