光刻設(shè)備：有勻膠機、曝光機、顯影設(shè)備、堅膜烘焙機等設(shè)備。純水制取設(shè)備：用于為工藝生產(chǎn)提供純凈無雜質(zhì)、無細菌的水。
計量儀器：量筒，托盤天平。分離物質(zhì)的儀器：漏斗?？杉訜岬膬x器：試管，燒杯，普通燒瓶，蒸發(fā)皿，坩堝。加熱儀器：酒精燈，石棉網(wǎng)。存、取物質(zhì)的儀器：試劑瓶，滴瓶，膠頭滴管，藥匙，集氣瓶。
實驗室儀器設(shè)備有試管、燒杯、蒸發(fā)皿、坩堝、酒精燈、布氏漏斗等。實驗儀器，是自然科學(xué)具體實驗時用到的儀器，主要是物理學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)使用。
滴瓶：用于盛放液體藥品。滴瓶上配套使用的滴管不用清洗。鐵架臺：用于固定和支持各種儀器，一般常用于過濾、加熱等實驗操作。1水槽：用于排水法收集氣體、或用來盛大量水的儀器，不可加熱。
化學(xué)實驗室常用儀器：試管、燒杯、玻璃棒、滴管、滴瓶、細口瓶、廣口瓶、量筒、漏斗、長頸漏斗、分液漏斗、錐形瓶、圓、平底燒瓶、冷凝管、容量瓶、集氣瓶。
1、因為殘余應(yīng)力的存在會影響工件的尺寸、壽命等。做應(yīng)力檢測，就是想要了解殘余應(yīng)力的狀態(tài)，做好相應(yīng)的措施。
2、一類是定量測量：如盲孔法、X射線法、磁測法、噴砂打孔法、切割法、套環(huán)法等；另一類是定性測試：如振動參數(shù)曲線法、尺寸精度穩(wěn)定性法等。
3、殘余應(yīng)力是在沒有外力作用下內(nèi)部自相平衡的應(yīng)力，各種截面的熱軋型鋼都有這類殘余應(yīng)力，一般型鋼截面尺寸越大，殘余應(yīng)力也越大。殘余應(yīng)力雖然是自相平衡的，但對鋼構(gòu)件在外力作用下的性能還是有一定影響。
4、b) 驗證結(jié)構(gòu)或構(gòu)件設(shè)計的合理性。根據(jù)以往經(jīng)驗來分析我們目前應(yīng)力測試涉及到以下領(lǐng)域：寶鋼150m3N2球罐 水壓試驗應(yīng)力測試。挖掘機重要構(gòu)件的應(yīng)力測試。屋面板加載狀態(tài)下的應(yīng)力測試。
硬度：薄膜硬度比較難測，如果需要絕對值，一般用顯微硬度計，還要看薄膜的厚度范圍。
要求薄膜有相當(dāng)高的擊穿場強，壓電薄膜功能層的厚度是小于1000nm(亞微米)。
薄膜是一種具有特殊性質(zhì)的材料，其厚度通常在納米至微米的范圍內(nèi)。測量薄膜厚度的有效方法可以幫助科學(xué)家了解其特性和應(yīng)用，這對于材料科學(xué)和工程領(lǐng)域都具有重要的意義。一種常見的測量薄膜厚度的方法是使用激光白光干涉儀。
測試薄膜的厚度，根據(jù)不同的薄膜有不同的測試方法。例如：對于金屬薄膜的測試，可以通過物理測試的方法來測量薄膜的厚度。其中，較為常用和準確的方法是利用FESEM（場發(fā)射掃描電鏡）進行測量。
殘余應(yīng)力檢測儀原理：X射線衍射法測量殘余應(yīng)力的原理：基于著名的布拉格方程2dsinθ=nλ ：即一定波長的X射線照射到晶體材料上，相鄰兩個原子面衍射時的X射線光程差正好是波長的整數(shù)倍。
殘余應(yīng)力檢測方法主要包括盲孔法、磁測法和X射線法殘余應(yīng)力的測量方法可以分為有損和無損兩大類。 有損測試方法就是應(yīng)力釋放法，也可以稱為機械的方法；無損方法就是物理的方法。
檢測振動時效的效果實際上就是檢驗工件中殘余應(yīng)力是否得以消除和均化，目前對殘余應(yīng)力的測試方法總的分為兩大類。
鋼軌應(yīng)力檢測儀原理是：通過測量外力對物體的作用，以及外力作用下物體的變形和應(yīng)力，來計算物體的強度和結(jié)構(gòu)特性。
原理：采用的是激發(fā)器對測試件進行彈性測試，測試區(qū)域應(yīng)力釋放致使產(chǎn)生變形。事前粘貼在試件上的應(yīng)變片電阻絲就會伸長或縮短引起阻值變化，從而打破測試儀電橋平衡而產(chǎn)生微弱電信號。
殘余應(yīng)力檢測儀原理：X射線衍射法測量殘余應(yīng)力的原理：基于著名的布拉格方程2dsinθ=nλ ：即一定波長的X射線照射到晶體材料上，相鄰兩個原子面衍射時的X射線光程差正好是波長的整數(shù)倍。
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